Avatar notebook default
5篇文章 · 8491字 · 3人关注
  • Resize,w 360,h 240
    Scan Reorder

    其实,在做完coarse placement后,Scan Cell大部分是按照连接的顺序随机的乱放的。这样其实会极大地占用绕线资源。因此,在后续...

  • Resize,w 360,h 240
    扫描链测试(scan chain)

    现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的PM2.5就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产...

  • Resize,w 360,h 240
    详解DFT的scan(边界扫描)

    1.scan结构图 扫描路径法的显著优点就是测试中把时序电路转化为组合电路,使得测试生成比时序电路容易,而且处于扫描路径上的触发器的状态...

  • Resize,w 360,h 240
    DFT设计之scan chain

    can chain的基本原理是将设计中所有的触发器连接成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以使用预先设计好的scan pattern用...

  • Resize,w 360,h 240
    面向前端设计的DFT基础介绍(一)——MBIST存储器内建自测试

    前言——芯片由MPW试产进入量产阶段的时候,DFT可测性设计是前后端设计者都无法绕过的必修课。DFT的设计,既属于芯片功能设计的范畴,又对后端的...

文集作者