今天分享的文章是来自新加坡A*STAR材料研究工程所(IMRE)的Joel K. W. Yang课题组近期发表在Nano Letters上的论文,标题为利用电子束的彩色打印。...
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椭圆偏振仪(ellipsometer)作为一种精密的光学分析测试仪器,已经广泛地应用在半导体(光)电子工业中,既能测量薄膜的厚度,又能提取材料的光学参数。然而,对于这类仪器乃...